|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Crack Development in a Low-Stress PBGA Package due to Continuous Recrystallization Leading to Formation of Orientations with [001] Parallel to the Interface |
| Auteur: |
Zhou, Bite Bieler, Thomas R. Lee, Tae-kyu Liu, Kuo-Chuan |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 39 (2010) nr. 12 pagina's 2669-2679 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |