|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical and Optical Characterization of AlGaN/GaN HEMTs with In Situ and Ex Situ Deposited SiNx Layers |
| Auteur: |
Tadjer, Marko J. Anderson, Travis J. Hobart, Karl D. Mastro, Michael A. Hite, Jennifer K. Caldwell, Joshua D. Picard, Yoosuf N. Kub, Fritz J. Eddy, Charles R. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 39 (2010) nr. 11 pagina's 2452-2458 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |