|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Damage accumulation during cryogenic and room temperature implantations in strained SiGe alloys |
| Auteur: |
Payet, Anthony Luce, Flavia Piegas Curfs, Caroline Mathieu, Benoît Sklénard, Benoît Barbé, Jean-Charles Batude, Perrine Joblot, Sylvain Tavernier, Clément Colombeau, Benjamin Guissi, Sofiene Martin-Bragado, Ignacio Gergaud, Patrice |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 42 (2016) nr. P2 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |