|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Current injection from metal to MoS2 probed at nanoscale by conductive atomic force microscopy |
| Auteur: |
Giannazzo, F. Fisichella, G. Piazza, A. Di Franco, S. Oliveri, I.P. Agnello, S. Roccaforte, F. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 42 (2016) nr. P2 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |