|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 45 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparative study of low energy ion beam oxidation of Si(100), Ge/Si(100) and Si 1−x Ge x/Si(100) |
| Auteur: |
Vancauwenberghe, O. Hellman, O.C. Herbots, H. Tan, W.J. Olson, J.L. Croft, W.J. |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. B, Solid-state materials for advanced technology |
| Paginering: | Jaargang 12 (1992) nr. 1-2 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 45 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |