|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 45 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of oxygen-ion-implanted silicon using spectroscopic ellipsometry and transmission electron microscopy |
| Auteur: |
Lynch, S. Creen, G.M. Greef, R. Margail, J. Lamure, J.M. Stoemenos, J. |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. B, Solid-state materials for advanced technology |
| Paginering: | Jaargang 12 (1992) nr. 1-2 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 45 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |