|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 38 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
Thickness and uniformity mapping of thin foils using resistive silicon detectors |
| Auteur: |
Hankins, T. McIntosh, A.B. Hagel, K. Abbott, A.D. Alvarez, A. Bartsch, R. McClure, M. Regener, S. Sorensen, M.Q. Yennello, S.J. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 566 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 38 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |