|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Real-time and on-site γ-ray radiation response testing system for semiconductor devices and its applications |
| Auteur: |
Mu, Yifei Zhao, Ce Zhou Qi, Yanfei Lam, Sang Zhao, Chun Lu, Qifeng Cai, Yutao Mitrovic, Ivona Z. Taylor, Stephen Chalker, Paul R. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 372 (2016) nr. C pagina's 15 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |