|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Multiphysics simulation study of thermal stress effects in nanoscale FinFETs heterogeneously integrated with GaN high-power device on silicon substrate |
| Auteur: |
Duan, Huali Li, Erping Huang, Qinyi Xu, Yuehang Chen, Wenchao |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 150 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |