|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Performance reliability of ultra-thin Si-SiO2, Si-Al2O3, Si-ZrO2 and Si-HfO2 interface in rectangular steep retrograded nano-regimes devices |
| Auteur: |
Thakur, Rajiv Ranjan Singh, Pragati |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 96 (2019) nr. C pagina's 21-28 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |