|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Numerical study on the self-heating effects for vacuum/high-k gate dielectric tri-gate FinFETs |
| Auteur: |
Zhang, Guohe Lai, Junhua Zhu, Shengli Wei, Sufen Liang, Feng Yang, Cheng-Fu |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 95 (2019) nr. C pagina's 52-57 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |