|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Comprehensive separate extraction of parasitic resistances in MOSFETs considering the gate bias-dependence and the asymmetric overlap length |
| Auteur: |
Kim, Junyeap Yoo, Hanbin Lee, Heesung Kim, Seong Kwang Choi, Sungju Choi, Sung-Jin Kim, Dae Hwan Kim, Dong Myong |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 85 (2018) nr. C pagina's 66-70 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |