|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Comphy — A compact-physics framework for unified modeling of BTI |
| Auteur: |
Rzepa, G. Franco, J. O’Sullivan, B. Subirats, A. Simicic, M. Hellings, G. Weckx, P. Jech, M. Knobloch, T. Waltl, M. Roussel, P.J. Linten, D. Kaczer, B. Grasser, T. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 85 (2018) nr. C pagina's 49-65 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |