|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of enhanced low dose rate sensitivity in SiGe HBTs by 60Co γ irradiation under different biases |
| Auteur: |
Zhang, Jin-xin Guo, Qi Guo, Hong-Xia Lu, Wu He, Chao-hui Wang, Xin Li, Pei Wen, Lin |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 84 (2018) nr. C pagina's 105-111 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |