|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation and impact of LDD variations on the drain disturb in normally-on SONOS NOR flash device |
| Auteur: |
Xu, Zhaozhao Liu, Donghua Xiong, Wei Hu, Jun Duan, Wenting Chen, Hualun Qian, Wensheng Kong, Weiran Zou, Shichang |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 84 (2018) nr. C pagina's 157-162 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |