|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 39 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Thermal stress probing the channel-length modulation effect of nano n-type FinFETs |
| Auteur: |
Tuan, Fu-Yuan Chen, Chii-Wen Wang, Mu-Chun Liao, Wen-Shiang Wang, Shea-Jue Fan, Shou-Kong Lan, Wen-How |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 83 (2018) nr. C pagina's 260-270 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 39 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |