|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of fin shape of tapered FinFETs on the device performance in 5-nm node CMOS technology |
| Auteur: |
Kurniawan, Erry Dwi Yang, Hao Lin, Chia-Chou Wu, Yung-Chun |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 83 (2018) nr. C pagina's 254-259 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |