|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of contact-etch-stop-layer and Si1-xGex channel mechanical properties on nano-scaled short channel NMOSFETs with dummy gate arrays |
| Auteur: |
Lee, Chang-Chun Liu, Chuan-Hsi Li, Dian-Yong Hsieh, Chia-Ping |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 83 (2018) nr. C pagina's 230-234 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |