Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 35 van 39 gevonden artikelen
 
 
  The dominant effect of c-axis orientation in tin on the electromigration behaviors in tricrystal Sn-3.0Ag-0.5Cu solder joints
 
 
Titel: The dominant effect of c-axis orientation in tin on the electromigration behaviors in tricrystal Sn-3.0Ag-0.5Cu solder joints
Auteur: Tian, Yu
Han, Jing
Ma, Limin
Guo, Fu
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 80 (2018) nr. C pagina's 7-13
Jaar: 2018
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 35 van 39 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland