|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 46 van 55 gevonden artikelen
| Titel: |
Single Event Upset rate determination for 65nm SRAM bit-cell in LEO radiation environments |
| Auteur: |
Sajid, Muhammad Chechenin, N.G. Torres, Frank Sill Gulzari, Usman Ali Butt, Muhammad Usman Ming, Zhu Khan, E.U. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 78 (2017) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 46 van 55 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |