|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 47 van 55 gevonden artikelen
| Titel: |
Soft error rate comparison of 6T and 8T SRAM ICs using mono-energetic proton and neutron irradiation sources |
| Auteur: |
Malagón, D. Bota, S.A. Torrens, G. Gili, X. Praena, J. Fernández, B. Macías, M. Quesada, J.M. Sanchez, Carlos Guerrero Jiménez-Ramos, M.C. García López, J. Merino, J.L. Segura, J. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 78 (2017) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 47 van 55 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |