|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 43 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis and resolution of a thermally accelerated early life failure mechanism in a 40V GaN FET |
| Auteur: |
Gajewski, Donald A. Lewis, Randall D. Decker, Benjamin M. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 12 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 43 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |