Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 13 van 23 gevonden artikelen
 
 
  Misalignment induced shear deformation in 3D chip stacking: A parametric numerical assessment
 
 
Titel: Misalignment induced shear deformation in 3D chip stacking: A parametric numerical assessment
Auteur: Shen, Y.-L.
Johnson, R.W.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 53 (2013) nr. 1 pagina's 11 p.
Jaar: 2013
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 13 van 23 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland