|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 48 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of neutron irradiation on the RF properties of oxidized high-resistivity silicon substrates with and without a trap-rich passivation layer |
| Auteur: |
Roda Neve, C. Kilchytska, V. Alvarado, J. Lederer, D. Militaru, O. Flandre, D. Raskin, J.-P. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 2 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 48 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |