|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 140 gevonden artikelen
| Titel: |
A complete methodology for assessing GaN behaviour for military applications |
| Auteur: |
Moreau, C. Le Pipec, M. Tence, S. Hemery, J. Rigo, J. Guérin, C. Ruelloux, D. Schneider, C. Le Helleye, P. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 50 (2010) nr. 9-11 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 140 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |