|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Anomalous latchup failure induced by on-chip ESD protection circuit in a high-voltage CMOS IC product |
| Auteur: |
Lin, I-Cheng Huang, Chih-Yao Chao, Chuan-Jane Ker, Ming-Dou |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 43 (2003) nr. 8 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |