|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Anomalous gate oxide conduction on isolation edges: analysis and process optimization |
| Auteur: |
Ghetti, A. Brazzelli, D. Benvenuti, A. Ghidini, G. Pavan, A. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 43 (2003) nr. 8 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 26 gevonden artikelen
| volgende >> |