Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 23 van 24 gevonden artikelen
 
 
  Synergistic effect of total ionizing dose and electromagnetic interference in SRAM using 22 nm FDSOI technology
 
 
Titel: Synergistic effect of total ionizing dose and electromagnetic interference in SRAM using 22 nm FDSOI technology
Auteur: Shang, Yinyin
Gao, Chenhe
Zhao, Xing
Li, Binhong
Li, Jianzhong
Zhu, Wei
Wu, Jianfei
Zhang, Hongli
Luo, Jun
Ye, Tianchun
Li, Jun
Hu, Changhua
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 169 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2025
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 23 van 24 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland