|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
The impact of negative gate voltage on neutron-induced single event effects for SiC MOSFETs |
| Auteur: |
Wang, Haibin Nie, Zhichao Huang, Xiaofeng Gu, Jianghao Tan, Zhixin Jing, Hantao Mo, Lihua Hu, Zhiliang Wang, Xueming |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 163 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |