|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Thermal cycling reliability of electronic components in bolted assemblies: A study of the influence of bolt position |
| Auteur: |
Zhao, Shuaifeng Guo, Weiqi Wang, Shaobin Zhang, Weiwei Li, Xin |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 163 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |