|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of SiC power MOSFET interface trap charges on UIS reliability under single pulse |
| Auteur: |
Wu, Xiao-Dong Wang, Ying Yu, Cheng-Hao Fei, Xin-xing Yang, Jian-qun Li, Xing-ji |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 155 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |