|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 115 gevonden artikelen
| Titel: |
AC stress analysis of trench-based multi-gate transistors in a 40 nm e-NVM technology |
| Auteur: |
Gay, R. Marca, V. Della Aziza, H. Chiquet, P. Regnier, A. Niel, S. Marzaki, A. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 138 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 115 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |