|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 115 gevonden artikelen
| Titel: |
A comparative radiation analysis of reconfigurable memory technologies: FinFET versus bulk CMOS |
| Auteur: |
Azimi, S. De Sio, C. Portaluri, A. Rizzieri, D. Sterpone, L. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 138 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 115 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |