|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Charge deposition analysis of heavy-ion-induced single-event burnout in low-voltage power VDMOSFET |
| Auteur: |
Alberton, Saulo G. Aguiar, V.A.P. Medina, N.H. Added, N. Macchione, E.L.A. Menegasso, R. Cesário, G.J. Santos, H.C. Scarduelli, V.B. Alcántara-Núñez, J.A. Guazzelli, M.A. Santos, R.B.B. Flechas, D. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 137 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |