|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of electric field at rough copper lines on failure time due to electrochemical migration in PCBs |
| Auteur: |
Reiss, Georg Kosednar-Legenstein, Barbara Riedler, Johann Eßl, Werner |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 117 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |