|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 175 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of the successive breakdown statistics of multilayer Al2O3/HfO2 gate stacks using the time-dependent clustering model |
| Auteur: |
Muñoz-Gorriz, J. Gonzalez, M.B. Campabadal, F. Suñé, J. Miranda, E. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 114 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 175 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |