|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 175 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of trap states in AlGaN/GaN self-switching diodes via impedance measurements |
| Auteur: |
Pérez-Martín, E. Vaquero, D. Sánchez-Martín, H. Gaquière, C. Raposo, V.J. González, T. Mateos, J. Iñiguez-de-la-Torre, I. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 114 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 175 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |