|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Extended symbol correction algorithm for group testing based non-binary error correction codes of minimum distance d q < 5 |
| Auteur: |
Garcia-Herrero, F. Sánchez-Macián, A. Maestro, J.A. Flanagan, M.F. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 113 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |