Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 8 van 14 gevonden artikelen
 
 
  Effects of TID radiation on P+ ion-implanted HVNMOS devices
 
 
Titel: Effects of TID radiation on P+ ion-implanted HVNMOS devices
Auteur: Zhiqiang, Xiao
Guozhu, Liu
Jinghe, Wei
Zongguang, Yu
Bing, Li
side, Song
lichao, Cao
Shaoli, Zhu
Yanfei, Li
Gensheng, Hong
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 113 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2020
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 8 van 14 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland