|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Research of single-event burnout and hardened GaN MISFET with embedded PN junction |
| Auteur: |
Fei, Xin-Xing Wang, Ying Luo, Xin Bao, Meng-Tian Yu, Cheng-Hao Li, Xing-Ji |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 110 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |