|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Experimental study of transconductance and mobility behaviors in ultra-thin SOI MOSFETs with standard and thin buried oxides |
| Auteur: |
Rudenko, T. Kilchytska, V. Burignat, S. Raskin, J.-P. Andrieu, F. Faynot, O. Le Tiec, Y. Landry, K. Nazarov, A. Lysenko, V.S. Flandre, D. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 54 () nr. 2 pagina's 164-170 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |