|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Unveiling the mechanism behind the negative capacitance effect in Hf0.5Zr0.5O2-Based ferroelectric gate stacks and introducing a Circuit-Compatible hybrid compact model for Leakage-Aware NCFETs |
| Auteur: |
Singh, Khoirom Johnson Acharya, Lomash Chandra Bulusu, Anand Dasgupta, Sudeb |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 216 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 25 gevonden artikelen
| << vorige |