|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of electrical characteristics of flexible CMOS devices fabricated with thickness-controlled spalling process |
| Auteur: |
Park, Honghwi Lim, Changhee Noh, Yeho Lee, Chang-Ju Won, Heungsup Jung, Jaedong Choi, Muhan Kim, Jae-Joon Yoo, Hocheon Park, Hongsik |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 173 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |