|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Life-time degradation of STT-MRAM by self-heating effect with TDDB model |
| Auteur: |
Zhang, Xue Zhang, Guangjun Shen, Lijie Yu, Pingping Jiang, Yanfeng |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 173 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |