|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
A unified aging compact model for hot carrier degradation under mixed-mode and reverse E-B stress in complementary SiGe HBTs |
| Auteur: |
Mukherjee, C. Fischer, G.G. Marc, F. Couret, M. Zimmer, T. Maneux, C. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 172 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |