|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Abnormal double-hump phenomenon in amorphous In-Ga-Zn-O thin-film transistor under positive gate bias temperature stress |
| Auteur: |
Kim, Yongjo Ha, Tae-Kyoung Yu, SangHee Kim, GwangTae Jeong, Hoon Park, JeongKi Kim, Ohyun |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 172 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 16 gevonden artikelen
| volgende >> |