|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of nitridation on the active near-interface traps in gate oxides on 4H-SiC |
| Auteur: |
Pande, Peyush Dimitrijev, Sima Haasmann, Daniel Moghadam, Hamid Amini Chaturvedi, Mayank Jadli, Utkarsh |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 171 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |