|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Effects of traps in the gate stack on the small-signal RF response of III-V nanowire MOSFETs |
| Auteur: |
Hellenbrand, Markus Lind, Erik Kilpi, Olli-Pekka Wernersson, Lars-Erik |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 171 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |