|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Identification of Si film traps in p-channel SOI FinFETs using low temperature noise spectroscopy |
| Auteur: |
Achour, H. Cretu, B. Simoen, E. Routoure, J.-M. Carin, R. Benfdila, A. Aoulaiche, M. Claeys, C. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 112 (2015) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |