|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
In depth characterization of electron transport in 14nm FD-SOI CMOS devices |
| Auteur: |
Shin, Minju Shi, Ming Mouis, Mireille Cros, Antoine Josse, Emmanuel Kim, Gyu-Tae Ghibaudo, Gérard |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 112 (2015) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |